Il sistema permette l’analisi composizionale quantitativa e non distruttiva di campioni industriali quali coating e film sottili tramite spettroscopia elettronicha di fotoemissione di raggi X (XPS).
In particolare è stato messo a punto il mapping superficiale con risoluzione di 100 μm per il controllo di campioni con dimensioni sino a 10 cm2.
È inoltre possibile controllare lo stato di pulizia e di ordine della superficie mediante misure di diffrazione di elettroni (LEED).
La strumentazione comprende anche un microscopio STM.
Da parte del personale del laboratorio incaricato dell'impiego dell'attrezzatura
senza la partecipazione diretta dell'utente
Uso a titolo gratuito sulla base di accordi di collaborazione di ricerca.
Fatturazione in base a contratto forfettario.