Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/Al (energie pari a 1253.5/ 1486.6 eV) ed un analizzatore emisferico con acquisizione multicanale. L'attrezzatura XPS fa parte di un ampio sistema per la caratterizzazione chimico fisica di superfici e film sottili che opera in condizioni di ultra alto vuoto e che comprede inoltre: una sorgente UV, un sistema per spettroscopia Auger, un sistema LEED (Omicron SpectaLEED), cannone ionico (0-5keV, Omicron), riscaldatori e criostato. Il sistema e' inoltre collegato ad un apparato MBE per la deposizione di film sottili.
L'accesso al sistema per analisi chimiche di superficie XPS, anche all’interno di un contratto di fornitura di servizio a tariffario, e’ competenza del personale CNR NANO S3 e non e’ previsto il coinvolgimento diretto del committente (modalita’ self- service).
L'utilizzo del sistema per analisi chimica di superficie XPS e' aperto agli esterni in due modalita' :
a) tramite contratti o commesse di ricerca
b) come servizio a tariffario