Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) . Il sistema puo' raggiungere risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti e lavora in condizioni di Ultra Alto Vuoto (UHV) a temperatura ambiente.
L'accesso al sistema di microscopia AFM/STM, anche all’interno di un contratto di fornitura di servizio a tariffario, e’ competenza del personale CNR NANO S3 e non e’ previsto il coinvolgimento diretto del committente (modalita’ self- service).
L'utilizzo del sistema di microscopia AFM/STM, e' aperto agli esterni in due modalita' :
a) tramite contratti o commesse di ricerca
b) come servizio a tariffario