Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica. Compatibile con microscopio ottico invertito per studio di colture cellulari. Diverse modalità di lavoro: Kelvin Probe Force Microscopy, microscopia a forza elettrica e magnetica. Sistema custom-made per DynamicMechanical Analysis (DMA).
L'accesso al sistema di microscopia AFM, anche all’interno di un contratto di fornitura di servizio a tariffario, e’ competenza del personale CNR NANO S3 e non e’ previsto il coinvolgimento diretto del committente (modalita’ self- service).
L'utilizzo del sistema di microscopia AFM, e' aperto agli esterni in due modalita' :
a) tramite contratti o commesse di ricerca
b) come servizio a tariffario