ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare interesse alla scienza dei materiali. Con questo strumento è possibile comprendere le proprietà fondamentali dei materiali, eseguire analisi di difetti e fratture meccaniche anche di materiali non conduttivi (modalità di lavoro a pressione variabile). È possibile, inoltre, indagare materiali ingegnerizzati come ad esempio leghe, rivestimenti e multistrato nanostrutturati.
Le informazioni ricavate da tale strumento sono immagini di tipo topografico e composizionale del campione indagato attraverso il sensore per gli elettroni secondare (SE) e quello per i restrodiffusi (BSE) rispettivamente.
Inoltre è presente un sistema avanzato di micro e nanoanalisi a dispersione di energia (EDS), Bruker QUANTAX 200, che fornisce informazioni composizionali qualitative e quantitative dei campioni da studiare.
Accesso riservato al personale di laboratorio con eventuale presenza del cliente
Su preventivo da concordare