Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento è dedicato all’imaging e alla spettroscopia di elettroni ad alta risoluzione.
Il microscopio lavora tra 60-300KeV di accelerazione con risoluzione massima di 0.14 nm in scansione e 0.1 nm in trasmissione. Grazie alla presenza del monocromatore e di uno spettrometro (Gatan) il sistema permette di effettuare analisi EELS (spettrometria in perdita di energia) con 50meV di risoluzione in energia.
L'accesso al sistema TEM, anche all’interno di un contratto di fornitura di servizio a tariffario, e’ competenza del personale CNR NANO S3 e non e’ previsto il coinvolgimento diretto del committente (modalita’ self- service).
L'utilizzo del sistema FIB/SEM e' aperto agli esterni in due modalita' :
a) tramite contratti o commesse di ricerca
b) come servizio a tariffario