E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Misura le principali proprietà meccaniche, di snervamento e di resistenza alla rottura in funzione della temperatura dei materiali polimerici.
Misure di compatibilità elettromagnetica secondo normativa CEI EN 55015
Programmazione e controllo per verifiche su sistemi a dinamiche complesse
Permette la valutazione del comportamento alla fiamma di un materiale.
Misure di compatibilità elettromagnetica (emissioni e immunità radiate)
MISTER ha accesso alla Clean Room per Sensori e Microsistemi dell’IMM di Bologna.
Permette la misura delle dimensioni di molecole, nanoparticelle e colloidi sub-micronici (range 0.6 nm - 6 micron) e della loro distribuzione.
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
Camera bianca con superficie di 80 m2 divisa in due zone.
misura di rumore e vibrazioni nelle lavorazioni di fresatura in condizioni di chatter
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione (odierni ed antichi)
Misura della permeabilità ai gas e ai liquidi di membrane e films per packaging, trattamento e purificazione di correnti gassos, trattamento acque
Misura della permeabilità ai gas e ai liquidi di membrane e films per packaging, trattamento e purificazione di correnti gassos, trattamento acque
Applicazioni di robotica atipica
Il laboratorio comprende:
a) Incubatore CO2, serie C150
Applicazione: colture cellulari
Il laboratorio è dotato di probe-station della Micromanipulator per la caratterizzazione parametrica di dispositivi elettronici, elettromeccanici e
All’interno della palazzina del Tecnopolo Bologna CNR è situato il laboratorio chimico di MISTER.
MISTER dispone di un laboratorio di ottica dotato di banco ottico polivalenteper la caratterizzazione dei dispositivi ottici