Laboratorio di Caratterizzazione Strutturale

Il laboratorio è dotato di:

  1. Diffrattometro SmartLab Rigaku ad anodo rotante (9KW) multifunzionale dedicato alla caratterizzazione strutturale di film sottili, materiali massivi, polveri e materiali nano-strutturati. Può effettuare misure di scattering di raggi X in un ampio range angolare (WAXS e SAXS), con diversi piani di diffrazione (In Plane, IP; Out of plane, OP) del campione. Gli elementi ottici a disposizione consentono inoltre misure ad alta risoluzione angolare, necessarie per la caratterizzazione di materiali di elevata cristallinità.
  2. Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) Zeiss LEO 1530 dotato di colonna elettronica GEMINI IR che garantisce una ottima brillanza ed una elevate corrente del fascio elettronico.  Il microscopio e utilizzato nella caratterizzazione morfologica e analitica di materiali e in misure elettriche su dispositivi elettronici di dimensioni sub-micrometriche. Lo strumento e inoltre dotato di spettrometro EDS che consente analisi composizionali su scala sub-micrometrica.
  3. Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) FEI TECNAI F20 utilizzato per caratterizzare la microstruttura dei materiali ad altissima risoluzione spaziale. Combinando tecniche d’immagine ad alta risoluzione con la diffrazione elettronica è possibile ricavare informazioni sulla struttura cristallina ed analizzarne i difetti presenti con risoluzione spaziale a livello nanometrico.
Quantità
1
Laboratorio
Modalità di accesso

Da parte del personale del laboratorio incaricato dell'impiego dell'attrezzatura 

senza la partecipazione diretta dell'utente

Condizioni di utilizzo

Uso a titolo gratuito sulla base di accordi di collaborazione di ricerca.

Fatturazione in base a contratto forfettario.

Referenti
Roberto Balboni
Sede attrezzatura
Area della Ricerca CNR, Via Gobetti 101 Bologna(BO) Tel: 0516399186
Ultimo aggiornamento
24/02/2023