Equipment catalogue

Il laboratorio è dotato di:

1. Diffrattometro SmartLab Rigaku ad anodo rotante (9KW) multifunzionale dedicato alla caratterizzazione strutturale di film sottili, materiali massivi, polveri e materiali nano-strutturati. Può effettuare misure di scattering di raggi X in un ampio range angolare (WAXS e SAXS), con diversi piani di diffrazione (In Plane, IP; Out of plane, OP) del campione. Gli elementi ottici a disposizione consentono inoltre misure ad alta risoluzione angolare, necessarie per la caratterizzazione di materiali di elevata cristallinità.
2. Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) Zeiss LEO 1530 dotato di colonna elettronica GEMINI IR che garantisce una ottima brillanza ed una elevate corrente del fascio elettronico.  Il microscopio e utilizzato nella caratterizzazione morfologica e analitica di materiali e in misure elettriche su dispositivi elettronici di dimensioni sub-micrometriche. Lo strumento e inoltre dotato di spettrometro EDS che consente analisi composizionali su scala sub-micrometrica.
3. Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) FEI TECNAI F20 utilizzato per caratterizzare la microstruttura dei materiali ad altissima risoluzione spaziale. Combinando tecniche d’immagine ad alta risoluzione con la diffrazione elettronica è possibile ricavare informazioni sulla struttura cristallina ed analizzarne i difetti presenti con risoluzione spaziale a livello nanometrico.