Diffrazione ad alta risoluzione e mappe di reticolo reciproco
Diffrattometro X-Pert-Pro ad alta risoluzione con monocromatore Goebel e cristalli analizzatori sul fascio incidente e sul fascio diffratto in grado di ridurre la dispersione cromatica a 10-4 e la risoluzione angolare a 12 secondi d'arco
Metodo delle mappe polari e della misura della tessitura in film sottili e leghe
Marca e modello
Diffrattometro X-Pert-Pro; Topografia a raggi X a doppio cristallo; Diffrazione da film sottili
Quantità
3
Laboratorio
Unità operativa
Caratterizzazioni Strutturali e di Superficie, referente Dott. Claudio Ferrari (claudio.ferrari@imem.cnr.it)
Modalità di accesso
Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale partecipazione e/o presenza dell’utente esterno
Condizioni di utilizzo
Su preventivo da concordare
Referenti
Giancarlo Salviati
Sede attrezzatura
IMEM-CNR, Parco Area delle SCienze 37/A Parma(PR) Tel: 0521 269222
Ultimo aggiornamento
11/07/2023