Microscopio elettronico a scansione in Field Emission
Range di ingrandimenti: da 8x a 1.000.000x. Range di Accelerazione che va da 0.5 a 20kV e presenza di Beam Booster, per lavorare a energie estremamente basse per limitare effetti di carica e analizzare in alto vuoto anche campioni scarsamente conduttivi. Possibilità di lavorare in condizioni sia di alto vuoto, che di pressione variabile (VP, XVP, nanoVP). Possibilità di analizzare campioni senza la necessità di particolari preparative, grazie al Cool Stage.
Marca e modello
FEG SEM, Zeiss Gemini 460
Quantità
1
Laboratorio
Unità operativa
Microscopia elettronica
Modalità di accesso
Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale partecipazione e/o presenza dell’utente esterno
Condizioni di utilizzo
Come da tariffario o su preventivo da concordare
Referenti
Erika Rimondi
Luca Maria Neri
Sede attrezzatura
Centro di Microscopia Elettronica, via Borsari 46 Ferrara(FE) Tel: 0532455725
Ultimo aggiornamento
14/11/2025