Microscopio elettronico a scansione in Field Emission
Range di ingrandimenti: da 8x a 1.000.000x. Range di Accelerazione che va da 0.5 a 20kV e presenza di Beam Booster, per lavorare a energie estremamente basse per limitare effetti di carica e analizzare in alto vuoto anche campioni scarsamente conduttivi. Possibilità di lavorare in condizioni sia di alto vuoto, che di pressione variabile (VP, XVP, nanoVP). Possibilità di analizzare campioni senza la necessità di particolari preparative, grazie al Cool Stage.
Brand and model
FEG SEM, Zeiss Gemini 460
Quantity
1
Laboratory
Operational unit
Microscopia elettronica
Access mode
Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale partecipazione e/o presenza dell’utente esterno
Terms of use
Come da tariffario o su preventivo da concordare
Referents
Erika Rimondi
Luca Maria Neri
Equipment location
Centro di Microscopia Elettronica, via Borsari 46 Ferrara(FE) Tel: 0532455725
Last update
14/11/2025