La metrologia delle superfici svolge due ruoli: il controllo in fase di produzione (sia di processo che delle apparecchiature) e l'ottimizzazione delle performance di prodotto.
Lo strumento di cui è dotato il laboratorio permette di caratterizzare le superfici in 3 dimensioni misurando superfici rugose, lisce o superlisce, a risoluzione di micro e nano scala, combinando in un solo strumento la tecnologia confocale e le tecniche di interferometria (VSI, PSI e PSI esteso). La vantaggiosa combinazione delle due tecniche permette di analizzare un ampio range di superfici, compiendo misurazioni non distruttive ad alta velocità (tempo tipico di scansione per un'immagine: 3s) e alte risoluzioni (fino a 0,1 nm).
Accesso da parte di personale di laboratorio con eventuale partecipazione e/o presenza dell’utente esterno.
Su preventivo da concordare.