E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Consente di effettuare prove statiche (trazione, compressione, flessione, ecc.) e dinamiche (fatica, con frequenze di prova nominali fino a oltre 1
Il set è composto da n. 8 matite costruite in alluminio, ø 10 mm, lunghezza 146 mm, sulle quali vi è inserito il minerale, con testa appuntita.
Sistema di imaging cellulare automatico per cellule staminali, per estrazione di DNA e per estrazione di RNA.
Consente di effettuare rilievi di microdurezza (su campioni metallici e su rivestimenti) con scala Vickers e carichi tra 10 e 1000 g.
Modifica superficiale di materiali
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Zeiss Z1 AxioObserver è un microscopio a fluorescenza inversa per esperimenti che coinvolgono colture cellulari viventi per lunghi periodi di tempo
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio diretto in campo chiaro e fluorescenza per cellule e tessuti su vetrino.
Microscopio avanzato di ultima generazione per l’osservazione di materiali, piccoli animali, cellule in sistemi di coltura bi- e tridimensionale e
Microscopio per l'osservazione di compartimenti subcellulari come il nucleo cellulare, i mitocondri, le vescicole e di processi dinamici come la mo
DA UTILIZZARE PER ATTIVITA' DI RICERCA, PROVE, MISURAZIONI
CARL ZEISS LSM 510 META è un evoluto microscopio a fluorescenza che permette di focalizzare con estrema precisione un laser sul preparato, aumentan
Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) permette di ottenere immagini tridimensionali ad alta risoluzione
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi