E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Software per lo sviluppo di analisi CFD in svariati campi di applicazione, ad es: simulazione di batteria, cavitazione, raffreddamento motore elett
Software per la soluzione di problemi di ingegneria strutturale mediante modelli ad elementi finiti, ad es.: Analisi non lineari, Analisi dinamiche
Pacchetto sw di Ansys per la progettazione Model-Based di software critici: Scade Architect interviene nella fase di Design del sw, Scade Suite è u
Programma di progettazione termotecnica dedicato al calcolo delle prestazioni termiche dell’edificio, dai fabbisogni energetici e alla potenza di p
Programma per il calcolo delle conseguenze di danno a seguito di rilasci di sostanze pericolose
Indagini fonometriche per la valutazione dell’inquinamento acustico ambientale e del rischio da esposizione al rumore per i lavoratori e determinaz
Strumento IBM che permette di eseguire test di singoli componenti sw o di più componenti di un sw. Per linguaggi C/C++ e ADA
Modulo del software Reliability Workbench per la stima delle probabilità / frequenze di accadimento degli scenari indesiderati mediante Alberi dei
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.