MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM)

Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e film, ricavando immagini ad elevati ingrandimenti con alta risoluzione; inoltre, la sonda per microanalisi EDS, abbinata, consente di ottenere la composizione chimica puntuale (con la possibilità di effettuare anche mappe).

La tecnica é particolarmente utile per indagini di failure analysis (frattografie di rotture, esami di fenomeni corrosivi, studi di eventi di usura), per lo studio della morfologia e topografia superficiali, per caratterizzazioni spinte (dettagli microstrutturali, esami di rivestimenti, ecc.) e attività di problem solving in genere (diagnosi di difetti, identificazione di contaminanti, ecc.).  

Opera anche in regime di basso vuoti, consentendo l'analisi dei materiali più sensibili (polimeri, compositi) senza metallizzazione.

Marca e modello
JEOL JSM-6390LV
Quantità
1
Laboratorio
Unità operativa
NCS Lab
Modalità di accesso

Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale presenza dell’utente esterno

Condizioni di utilizzo

Su preventivo da concordare

Referenti
Michele Cavallini
Sede attrezzatura
NCS Lab, Via Pola Esterna, 4/12 Carpi(MO) Tel: 059669813
Ultimo aggiornamento
28/02/2023