MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM)

Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e film, ricavando immagini ad elevati ingrandimenti con alta risoluzione; inoltre, la sonda per microanalisi EDS, abbinata, consente di ottenere la composizione chimica puntuale (con la possibilità di effettuare anche mappe).

La tecnica é particolarmente utile per indagini di failure analysis (frattografie di rotture, esami di fenomeni corrosivi, studi di eventi di usura), per lo studio della morfologia e topografia superficiali, per caratterizzazioni spinte (dettagli microstrutturali, esami di rivestimenti, ecc.) e attività di problem solving in genere (diagnosi di difetti, identificazione di contaminanti, ecc.).  

Opera anche in regime di basso vuoti, consentendo l'analisi dei materiali più sensibili (polimeri, compositi) senza metallizzazione.

Brand and model
JEOL JSM-6390LV
Quantity
1
Laboratory
Operational unit
NCS Lab
Access mode

Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale presenza dell’utente esterno

Terms of use

Su preventivo da concordare

Referents
Michele Cavallini
Equipment location
NCS Lab, Via Pola Esterna, 4/12 Carpi(MO) Tel: 059669813
Last update
28/02/2023