Microscopio a forza atomica
- AFM in contatto
- AFM in tapping mode
- MFM Microscopia a Forza Magnetica
- SCM Microscopia a scansione di capacità
- STM Microscopia a effetto tunnel
- Nanolitografia e Nanomanipolazione (scanner closed loop)
Massima area di scansione: 100 µm x 100 µm
Dimensione dei campioni: fino a 150 mm di diametro e 12 mm di spessore
Marca e modello
AFM Veeco Dimension 3100 Nanoman
Quantità
1
Laboratorio
Unità operativa
Caratterizzazioni Strutturali e di Superficie Dott.ssa Lucia Nasi lucia.nasi@imem.cnr.it
Modalità di accesso
Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale partecipazione e/o presenza dell’utente esterno
Condizioni di utilizzo
Su preventivo da concordare
Referenti
Giancarlo Salviati
Sede attrezzatura
IMEM-CNR, Parco Area delle SCienze 37/A Parma(PR) Tel: tel 0521-269285
Ultimo aggiornamento
11/07/2023