Microscopio a forza atomica
- AFM in contatto
- AFM in tapping mode
- MFM Microscopia a Forza Magnetica
- SCM Microscopia a scansione di capacità
- STM Microscopia a effetto tunnel
- Nanolitografia e Nanomanipolazione (scanner closed loop)
Massima area di scansione: 100 µm x 100 µm
Dimensione dei campioni: fino a 150 mm di diametro e 12 mm di spessore
Brand and model
AFM Veeco Dimension 3100 Nanoman
Quantity
1
Laboratory
Operational unit
Caratterizzazioni Strutturali e di Superficie Dott.ssa Lucia Nasi lucia.nasi@imem.cnr.it
Access mode
Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale partecipazione e/o presenza dell’utente esterno
Terms of use
Su preventivo da concordare
Referents
Giancarlo Salviati
Equipment location
IMEM-CNR, Parco Area delle SCienze 37/A Parma(PR) Tel: tel 0521-269285
Last update
11/07/2023