MICROSCOPIO A FORZA ATOMICA (AFM)
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo. Microscopio ottico integrato per correlazione OM-AFM.
Applicazioni:
- Topografia di nano-texture
- Caratterizzazione superficiale di coating
- Caratterizzazione topografica superficiale
- Caratterizzazione di micro e nano-strutture
- Analisi superficiale dei polimeri
Marca e modello
Bruker N8 Neos
Quantità
1
Laboratorio
Unità operativa
NCS Lab
Modalità di accesso
Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale presenza dell’utente esterno.
Condizioni di utilizzo
Su preventivo da concordare.
Referenti
Rodrigo Davalli
Sede attrezzatura
NCS Lab, Via Pola Esterna 4/12 Carpi(MO) Tel: 0597283273
Ultimo aggiornamento
29/04/2025