MICROSCOPIO A FORZA ATOMICA (AFM)

Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo. Microscopio ottico integrato per correlazione OM-AFM.

Applicazioni:

  • Topografia di nano-texture
  • Caratterizzazione superficiale di coating
  • Caratterizzazione topografica superficiale
  • Caratterizzazione di micro e nano-strutture
  • Analisi superficiale dei polimeri
Brand and model
Bruker N8 Neos
Quantity
1
Laboratory
NCS Lab
Operational unit
NCS Lab
Access mode

Accesso da parte del personale di laboratorio con eventuale presenza dell’utente esterno.

Terms of use

Su preventivo da concordare.

Referents
Rodrigo Davalli
Equipment location
NCS Lab, Via Pola Esterna 4/12 Carpi(MO) Tel: 0597283273
Last update
29/04/2025
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