E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Alimentatore DC bidirezionale programmabile da laboratorio, tensione 500V, corrente 20A, potenza 3000W
Alimentatore DC da 0-200 V, 0-420 A, 4U 30 kW, USB LAN.
Alimentatore a frequenza Variabile fino a 15 kW.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Banco prova con freno attivo per la caratterizzazione delle macchine elettriche (ad esempio macchine sincrone, brushless, a induzione, ecc.)
Banco prova con freno attivo per la caratterizzazione delle macchine elettriche (ad esempio macchine sincrone, brushless, a induzione, ecc.) e prov
Banco prova ad alta potenza e alta coppia in configurazione back-to-back.
Datalogger temperatura a 8 canali per termocoppie di tipo K da utilizzare nel corso dei test di validazione delle macchina elettriche per la misura
Impianto controllato per il raffreddamento a liquido delle macchine elettriche in prova.
Caratteristiche tecniche:
Il modello GPT-9904 ha una potenza di 500 [VA] per prove di tensione di tenuta / Resistenza isolamento / Tester messa a terra.
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .