Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Misura le principali proprietà meccaniche, di snervamento e di resistenza alla rottura in funzione della temperatura dei materiali polimerici.
Misure di compatibilità elettromagnetica secondo normativa CEI EN 55015
Programmazione e controllo per verifiche su sistemi a dinamiche complesse
Permette la valutazione del comportamento alla fiamma di un materiale.
Misure di compatibilità elettromagnetica (emissioni e immunità radiate)
MISTER ha accesso alla Clean Room per Sensori e Microsistemi dell’IMM di Bologna.
Permette la misura delle dimensioni di molecole, nanoparticelle e colloidi sub-micronici (range 0.6 nm - 6 micron) e della loro distribuzione.
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
Camera bianca con superficie di 80 m2 divisa in due zone.
misura di rumore e vibrazioni nelle lavorazioni di fresatura in condizioni di chatter
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione (odierni ed antichi)
Misura della permeabilità ai gas e ai liquidi di membrane e films per packaging, trattamento e purificazione di correnti gassos, trattamento acque
Misura della permeabilità ai gas e ai liquidi di membrane e films per packaging, trattamento e purificazione di correnti gassos, trattamento acque
Applicazioni di robotica atipica
Il laboratorio comprende:
a) Incubatore CO2, serie C150
Applicazione: colture cellulari
Il laboratorio è dotato di probe-station della Micromanipulator per la caratterizzazione parametrica di dispositivi elettronici, elettromeccanici e
All’interno della palazzina del Tecnopolo Bologna CNR è situato il laboratorio chimico di MISTER.
MISTER dispone di un laboratorio di ottica dotato di banco ottico polivalenteper la caratterizzazione dei dispositivi ottici