Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Il microscopio elettronico a scansione SEM, è uno strumento attraverso il quale è possibile condurre indagini di tipo microinvasivo su different
Sonde LEM per la misura di corrente da 0 a 1000 A da utilizzare per prove di caratterizzazione di macchine elettriche ed azionamenti anche ad alta
Sonde Rowgosky wide band per la misura AC della corrente fino a 5000 [A].
Stampante 3D per la realizzazione di piccoli componenti da utilizzare in fase di prototipazione o per set up banchi prova.
Tachimetro per la misura della velocità angolare con o senza contatto.
Range di misura 60-100,000 [r/min].
Termocamera a infrarossi avanzata con risoluzione 384x288 pixel touch screen.
Torsiometro di precisione per la misura di coppia e velocità angolare meccanica.
Torsiometro di precisione per la misura di coppia e velocità angolare meccanica.
Lo strumento consente di acquisire tutte le grandezze elettriche per la caratterizzazione delle macchine elettriche.
Lo strumento consente di acquisire tutte le grandezze elettriche per la caratterizzazione delle macchine elettriche.
Il diffrattometro per polveri consente l’identificazione delle fasi cristalline presenti in differenti tipologie di materiali, sia su materiali di