Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo + microanalizzatore a dispersione di energia

Permette di studiare la microstruttura di campioni in forma di polvere o massivo, cioè  forma-distribuzione-dimensione-aggregazionedelle particelle, forma-dimensione dei grani. Su superfici levigate e piane di materiali massivi permette di mappare la distribuzione delle fasi chimiche primarie e secondarie, analizzare il percorso di propagazione di fessure indotte, mappare i difetti critici, misurare la porosità residua.  Performances: Tensione di accelerazione (EHT): 0.1 - 30 kV; Corrente di fascio: 4 pA - 20 nA, con stabilità inferiore a 0.2 %/ora. Distanza di lavoro (WD):  1-50 mm (dipende dalle condizioni). Risoluzione: 1.5 nm a 20 kV e WD = 2 mm, 1.7 nm a 15 kV e WD = 2 mm, 3.0 nm a 1 kV e WD = 2mm

 

Brand and model
ZEISS SIGMA + Microsonda Oxford Analytical INCA Xact
Quantity
1
Access mode

Accesso riservato ai soli ricercatori del laboratorio

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Referents
Laura Silvestroni
Equipment location
CNR ISSMC, VIA GRANAROLO 64 FAENZA(RA) Tel: 0546 699723
Last update
04/12/2023