Equipment catalogue

Il sistema, utilizzato per indagare la morfologia e le proprietà spettroscopiche localizzate in film sottili, eterostrutture organiche/ibride e dispositivi optoelettronici, comprende:

a) Laser impulsato al femtosecondo.

Marca: Spectra Physics.

Tunabile in energia e in lunghezza d’onda nell’intervallo 600-1100 nm, con una durata degli impulsi pari a 100 femtosecondi.

Il laser è particolarmente adatto come sorgente per eccitare fotoluminescenza in eterostrutture e film sottili (materiali e/o dispositivi) ed è inoltre accoppiato otticamente alla testa di scansione del Microscopio confocale.



b) Microscopio Confocale a scansione laser.

Marca: NIKON.

Il microscopio è finalizzato allo studio della morfologia correlata alle proprietà ottiche localizzate (risoluzione nel piano di 100 nm) ed è impiegato per eseguire diagnostiche su eterostrutture e dispositivi.

Le misure possono essere fatte in condizioni controllate di atmosfera, in un ampio range di temperatura (5-350 °K) e direttamente su dispositivi elettronici e fotonici funzionanti. Il sistema inoltre consente di fare tomografia assiale con risoluzione di 350 nm sull’asse z.

c) Streak Camera per la misura risolta in tempo di fotoluminescenza ed elettroluminescenza.

Marca: Hamamatsu.

Viene impiegata nell’analisi ottica risolta nel tempo dei segnali di foto ed elettroluminescenza con risoluzioni temporali di 2 ps.

d) MicroRaman confocale Renishaw 1000.

Marca: Renishaw.

Le caratteristiche fondamentali dello strumento sono una risoluzione spaziale di 1 μm, una

risoluzione spettrale di 1 cm-1; stage motorizzata per imaging chimico da risonanza Raman;

lunghezze d'onda di eccitazione: 633 nm (HeNe), 514nm e 488 nm (Ar+), possibilità di effettuare

misure in temperatura (10-350 K). Tali caratteristiche tecniche sono sfruttate per una diagnostica

della morfologia e struttura di eterogiunzioni organiche ed ibride impiegate

in dispositivi fotovoltaici e optoelettronici.