E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Misure acustiche di isolamento e misure di qualificazione di ambienti
Misure di deformazione dinamica (0.5-100000Hz) e analisi modale sperimentale
Analisi modale strutturale
Misure di pressione sonora e di potenza sonora
Misure di rumore con livelli molto bassi
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.