Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Il microscopio ottico polarizzatore a luce trasmessa è un microscop
Range temperatura: 25 - 60 °C,
Range umidità: 50 - 98 % u.r.
Determinazione del Coefficiente di Frizione Dinamica secondo il metodo BCRA, con utilizzo di pattini di Gomma 4S e Cuoio.
Determinazione del Coefficiente di Frizione Statica secondo la norma ASTM C1028, con Cella di carico a trazione da 25 kg
Misure di scivolamento mediante determinazione del coefficiente d'attrito conforme alle normative EN 1097-8, 1338-1, 1339-1, 14231, 1340-1, 13
Il microscopio elettronico a scansione SEM, è uno strumento attraverso il quale è possibile condurre indagini di tipo microinvasivo su different
ICP simultaneo, con ottica ad elevata risoluzione, protetta dalla polvere con un sistema di flussaggio di gas inerte.
Termocamera IR per diagnostica non distruttiva di edifici e processi industriali con le seguenti funzioni:
Triplice stack di prova con i seguenti range di resistenza termica:
- [0.0005 ÷ 0.01] m2K/W;
Termoflussimetro da campo per la misura della trasmittanza termica di strutture murarie esistenti e software associato.
Strumento per misure di COnducibilità termica di materiali a medio alta resistenza termica nel range di temperatura 0-80 °C e con spessore variabil
Il diffrattometro per polveri consente l’identificazione delle fasi cristalline presenti in differenti tipologie di materiali, sia su materiali di
La fluorescenza da raggi X o XRF, appartiene alla categoria delle analisi analitiche non distruttive, e viene utilizzata per determinare la c
Generatore: 50 kV
Detector: HighSense XP (A35D600)
Anodo tubo raggi x: Argento