E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Camera climatica adatta per eseguire test di antigelività su piastrelle, tegole o manufatti simili.
Un colorimetro è uno strumento sensibile alla luce che misura la quantità di colore che viene assorbito da un oggetto o di una sostanza
La cromatografia ionica è una tecnica che consente l’identificazione e la quantificazione di uno o più cationi o anioni in soluzione acquosa.
La resistenza di un materiale ceramico è determinata mediante prove di flessione a 3 o 4 punti.
Dinamometro SCOF
Per studiare, mettere a punto e caratterizzare i vari materiali, è necessario poter effettuare trattamenti termici anche a temperature
Questo strumento permette al laboratorio di effettuare una determinazione sia qualitativa, sia quantitativa degli elementi presenti in
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.