E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.

Risultati trovati: 31
Nome
Descrizione
Laboratorio
Prov.

Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS)  e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A

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Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi

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Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.

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Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.

Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde

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Braccio portatile per misure 3D. Diametro operativo 2400 mm.

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Programmma avanzato per la progettazione meccanica 3d

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Programma per la simulazione dei percorsi utensili per CNC a 5 assi (lavorazione per asportazione di truciolo).

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Cappa a flusso laminare orizzontale per attività in cui si renda necessario proteggere il prodotto da effetti dannosi provenienti dalla diffusione

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Centro di lavoro a 5 assi per lavorazioni meccaniche nell'ambito di sviluppo prototipi e attività di ricerca.

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Centro di lavoro a 5 assi per lavorazioni meccaniche nell'ambito di sviluppo prototipi e attività di ricerca

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Helium leak detector per misurare livello di tenuta di sistemi in pressione.

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Sistema per studio di monostrati di molecole anfifiliche.

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Misure tridimensionale e reverse engineering di componenti meccanici. Fornita di software di acquisizione Capps Dimis.

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Macchina per lavorazioni a 5 assi per asportazione di truciolo. FUnzionalità tornio+fresa.

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La macchina MK3 è una macchina equilibratrice dinamica ad una stazione di lavoro, per l'equilibratura di rotori.

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Marcatrice laser per serializzazioni su metalli.

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Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.

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Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .

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Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.

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Microscopio elettronico in trasmissione  con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento

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