E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Permette la realizzazione di prototipi e dimostratori in materiali compositi avanzati (Fibre di Carbonio/Resine epossidiche)
Realizzazione di prove su motori a combustione interna, anche con acquisizione di grandezze direttamente in camera di combustione.
Realizzazione di prove su motori a combustione interna, anche con acquisizione di grandezze direttamente in camera di combustione.
Camera climatica per simulazione di condizioni ambientali con controllo di temperatura e umidità per prove di qualifica in ambito spaziale.
Carico elettronico per il test di batterie secondo programmi di scarica pre-impostabili.
Permette di valutare forze aerodinamiche su modelli in scala e di calibrare strumentazione per la fluidodinamica
Lo strumento, con un peso di circa 250 g ed un ridotto consumo elettrico, consente il conteggio di particelle di aerosol nell'ambito dell'analisi d
Realizza prototipi in materiale termoplastico (ABS) utilizzando la tecnologia FDM (Fused Deposition Modeling).
Realizza prototipi in materiale termoplastico (ABS Plus) utilizzando la tecnologia FDM (Fused Deposition Modeling) con uno spessore dei layer che p
Taglio di schiume per la realizzazione e modelli per stampi
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento