E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Il picnometro misura la densità reale della polvere tramite il principio dello spostamento di gas.
Lo strumento consente una determinazione accurata della densità reale (o assoluta) di polveri e solidi.
Strumento serve alla valutazione della lavorabilità di materiali ceramici.
La porosimetria ad intrusione di mercurio ci consente di misurare il volume e le dimensioni dei pori.
La pressatura isostatica a freddo (CIP) consiste nel comprimere una polvere ceramica opportunamente preparata contenuta in uno stampo flessibile (d
Associa l’effetto della temperatura a quello della pressione e permette di ottenere materiali con porosità residue minime.
Il colaggio in pressione (PSC) è una tecnica di formatura che consente di ridurre notevolmente i tempi di formatura rispetto al co
La metrologia delle superfici svolge due ruoli: il controllo in fase di produzione (sia di processo che delle apparecchi
Tramite l'utilizzo di specifiche sonde a fluorescenza lo strumento permette la simultanea amplificazione e quantificazione di frammenti d
Le prove di reologia costituiscono uno strumento indispensabile per il controllo del processo industriale e per lo svilu
Misure di tensione (o energia) superficiale e angolo di contatto
Sistema ottico dotato di camera ad alta velocità di acquisizione per la determinazione delle proprietà superficiali di solidi (angolo di contatto,
La spettroscopia di emissione al plasma (ICP-OES) è una tecnica di analisi utilizzata per determinare la composizione elementare qualitativa e quan
Permette l'analisi chimica di materiali organici ed inorganici.
Lo spettrofotometro NanoDrop fornisce una analisi spettroscopica UV-Vis completa utilizzando microvolumi di soluzione (1-2 microL) ed è partic
Range di lunghezze d’onda: 220 – 3000 nm
Risoluzione ≤ 0.2 nm
Accuratezza UV-Vis ≤ 0.3 nm