E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
ALIMENTATORE LAMBDA GEN 80-42-1P230 DC 80V 42A 3360W
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Attrezzature per prove di compressione diagonale su muratura
Banco specifico per la verifica dell’efficienza dei sistemi di saldatura ad aria calda per materiali da impacchettamento di liquidi alimentari
Camera climatica per la simulazione di condizioni ambientali specifiche per la qualificazione dei materiali secondo le Linee Guida ICH
Codice di calcolo SimaPro 9.3 e banche dati ELCD, Ecoinvent, Eth-Esu 96, Agri-footprint, USLCI, Database_UNIMORE
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento