E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
monitoraggio qualità dell'aria: fotometro per la misura del coefficiente di assorbimento dell'aerosol atmosferico e della concentrazione equivalent
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Monitoraggio qualità aria: rilevazione e quantificazione di cationi e anioni inorganici idrosolubili
Monitoraggio qualità aria: misurazione di concentrazione in massa o numero di particelle nel particolato atmosferico (PM10, PM2.5, PM1, PM > 0,2
Monitoraggio qualità aria: auto-campionatore di particolato atmosferico (PM10 e PM2.5)
Separazione e determinazione quali-quantitativa di miscele di composti organici in campioni provenienti da processi di trattamento di reflui e fang
Separazione e determinazione quantitativa di miscele di composti organici in campioni provenienti da processi di trattamento di reflui e fanghi.
Monitoraggio qualità aria: campionatore ad alto volume di particolato atmosferico
Monitoraggio qualità aria: rilevazione e quantificazione di anidro-zuccheri (Levoglucosan, Mannosan, Galactosan) quali markers della combustione da
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Caratteristiche:
ingrandimento 1000X,
lampada fluorescente 200 W e filtri,