E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.

Risultati trovati: 36
Nome
Descrizione
Laboratorio
Prov.

3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.

FE

Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS)  e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A

MO

Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi

MO

Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.

MO

Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.

Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde

MO

 

Centro di lavoro a 5 assi con parametri:

Asse \ ParametriCorsa di lavoroVelocità max.Accelerazione max.

Asse X

PC

Struttura a “T rovesciato”.

PC

Forno a convezione forzata di dimensioni interne 1,4 x 3,8 x 1,400 m3 per un volume utile di 7500 litri.

PC

Forno da laboratorio a muffola con convezione forzata per garantire una distribuzione ottimale della temperatura nel vano del forno.

PC

Forno Nabertherm a convezione con vano di lavoro di 900x650x650mm3, massima temperatura di lavoro 850°C, omogeneità della temperatura interna +-7°C

PC

Forno Tubolare da Laboratorio Nabertherm per attività di ricerca su schiume e spugne metalliche.

PC

Sistema per studio di monostrati di molecole anfifiliche.

MO

Robot da taglio a getto idro-abrasivo con controllo numerico con 5 assi controllati e intensificatore di pressione FLOW 9XV con pompante a doppio e

PC

Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.

MO

Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .

MO

Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.

MO

Microscopio digitale con piatto motorizzato su due assi con corsa di 100mm, velocità di posizionamento massima di 20mm/s e risoluzione 1um; Stativo

PC

Microscopio elettronico in trasmissione  con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento

MO

Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.

MO

Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.

MO