Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.

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Laboratory
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Permette di studiare la microstruttura di campioni in forma di polvere o massivo, cioè  forma-distribuzione-dimensione-aggregazionedelle parti

RA

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) a pressione variabile (VP) o ambientale (E) FEI QUANTA 200 ad alte prestazioni é dotato di sorgente el

RA

T max 1400°C Heating rate = 0,1÷80°C/min

RA

Permette di ottenere in pochi secondi composti omogenei, con solidi perfettamente dispersi, senza residui di aria e tutto questo direttamente nel c

RA

Sistema di misura di Campi Elettromagnetici

 

BO

Il metodo applica l’equazione BET e si basa sull' adsorbimento dell'azoto (N2).

RA

Permette la lettura di micropiastre da 96 pozzetti ad uno spettro compreso tra 340 e 850 nm idoneo per applicazioni che vanno dalla cinetica enzima

RA

Nanoindenter con punta Berkovich. . Profondità massima di contatto: >500 µm. Carico massimo: 500 mN

RA

Il picnometro misura la densità reale della polvere tramite il principio dello spostamento di gas.

RA

La porosimetria ad intrusione di mercurio ci consente di  misurare il volume e le dimensioni dei pori.

RA

La pressatura isostatica a freddo (CIP) consiste nel comprimere una polvere ceramica opportunamente preparata contenuta in uno stampo flessibile (d

RA

Associa l’effetto della temperatura a quello della pressione e permette di ottenere materiali con porosità residue minime.

RA

Tramite l'utilizzo di specifiche sonde a fluorescenza lo strumento permette la simultanea amplificazione e quantificazione di frammenti d

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Misure di tensione (o energia) superficiale e angolo di contatto

RA

Sistema ottico dotato di camera ad alta velocità di acquisizione per la determinazione delle proprietà superficiali di solidi (angolo di contatto,

RA

La spettroscopia di emissione al plasma (ICP-OES) è una tecnica di analisi utilizzata per determinare la composizione elementare qualitativa e quan

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Permette l'analisi chimica di materiali organici ed inorganici.

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Lo spettrofotometro NanoDrop fornisce una analisi spettroscopica UV-Vis completa utilizzando microvolumi di soluzione (1-2 microL) ed è partic

RA

Range di lunghezze d’onda: 220 – 3000 nm

Risoluzione ≤ 0.2 nm

Accuratezza UV-Vis ≤ 0.3 nm

RA