Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Misura la permeabilità all'aria di tessuti d'abbigliamento e industriali, compresi quelli per usi tecnici, tessuti non-tessuti, carta ed altre tipo
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Prove per abbigliamento da lavoro per la protezione dalla trasmissione del calore mediante esposizione alla fiamma
Prove su abbigliamento da lavoro per la verifica della propagazione limitata della fiamma
Prove su abbigliamento da lavoro per la protezione contro il calore radiante
Verifica infiammabilità per tessuti di abbigliamento (Requisito cogente per esportazione in USA).
Prove di resistenza dinamometrica su tessuti e filati, prove di resistenza delle cuciture, di lacerazione dei tessuti
Analisi cromatografica allo stato gassose con rilevazione in massa, per la caratterizzazione di ammine, dimetilformammide, dimetilfumarato, clorofe
Analisi cromatografica di sostanze volatili, terpeni, residui di solventi
Spettrometro di massa singolo quadrupolo con spazio di testa TriPlus 300
Analisi in cromatografia liquida di alchilfenoli, etossilati, bisfenoli, cannabinoidi, PFAS e ammine
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.