Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
La superficie specifica - ovvero l'area superficiale per unità di massa, espressa in m2/g - di solidi granulari, polveri
Software per lo sviluppo di analisi CFD in svariati campi di applicazione, ad es: simulazione di batteria, cavitazione, raffreddamento motore elett
Software per la soluzione di problemi di ingegneria strutturale mediante modelli ad elementi finiti, ad es.: Analisi non lineari, Analisi dinamiche
Pacchetto sw di Ansys per la progettazione Model-Based di software critici: Scade Architect interviene nella fase di Design del sw, Scade Suite è u
BOT 3000
Lo strumento in dotazione al Centro Ceramico è un colorimetro portatile, e quindi impiegabile anche in caso in cui non sia possibile spostare il ca
La cromatografia ionica è una tecnica che consente l’identificazione e la quantificazione di uno o più cationi o anioni in soluzione acquosa.
La diffrazione dei raggi X è una tecnica analitica non distruttiva ampiamente utilizzata nella caratterizzazione dei materiali.