Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Piastra 50 x 50 mm per misure di conduttività termica a temperatura ambiente secondo la norma ASTM E1530.
Piastra calda con anello di guardia 500 x 500 a per misure di conduttività termica tra 0°C e 30 °C secondo le norme ISO 8302,
Piastra radiante costituita da pannelli ceramici, di dimensioni 300 x 450 mm, montati su una cornice di acciaio alimentata con una miscela di aria
Utilizzata per:
prove meccaniche
prove meccaniche ai sensi della circolare 7617/STC settore
Misurazione delle caratteristiche di retroriflessione e di riflessione della segnaletica orizzontale: RL (coefficiente di luminanza retroriflessa n
Camera di prova per test di Reazione al fuoco in grande scala per prove secondo la ISO 9705.
- Sfera di diametro di 1,9 m rivestita internamento con solfato di bario usata per misure di trasmissione e riflessione.
Sistema analisi GC-MS con desorbitore termico per
- determinazione VOC ISO16000-6
- EN ISO 16516
Deposizione PVD di film sottili a partire da target sia ceramici che metallici tramite RF e DC magnetron sputtering, sputtering reattivo (N2 atmosp
Sistema di litografia a fascio elettronico e microscopio elettronico a scansione.
Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto.
Sonda intensimetrica a n. 2 canali ICP per misure di isolamento acustico e livelli di potenza sonora.
Sistema per la crescita fisica e la deposizione di nanocluster metallici, compositi e semiconduttori (2-20 nm in diametro) preformati e selezionati
Banco ottico per spettrofotometria.
Campi di applicazione : Caratterizzazione ottica di film sottili.
Misura dell'emissività infrarossa e misure spettrali di riflettanza.
Misura delle coordinate cromatiche e del fattore di luminanza "Y" secondo la serie normativa UNI EN ISO/CIE 11664.
Spettrofotometro modello “LAMBDA 750S” della ditta PerkinElmer per misure negli intervalli spettrali ultravioletto/visibile/vicino infrarosso, camp
Utilizzato per la determinazione della composizione chimica delle seguenti leghe metalliche:
a) acciai non legati;