Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Apparato per la caratterizzazione del folding e misfolding di singole proteine, e dei meccanismi attraverso i quali singole biomolecole interagisco
Oscilloscopio alta definizione con A/D 12bit e banda passante di 1GHz.
Esperimenti in campo magnetico e sotto l'azione di campi em con frequenze sino a 20 GHz. Esperimenti a basse temperature.
Misuratore bolometrico di potenza elttrica in radiofrequenza, operante fino a 18 GHz, con potenza massima di 100mW.
Ponte di misura L C R di precisone, con frequenza di lavoro compresa fra 75 KHz e 30 MHz.
Misuratore di Resistenza superficiale, per caratterizzare/verificare le zone protette da ESD
Deposizione PVD di film sottili a partire da target sia ceramici che metallici tramite RF e DC magnetron sputtering, sputtering reattivo (N2 atmosp
Sistema di litografia a fascio elettronico e microscopio elettronico a scansione.
Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto.
Sonda oscilloscopica a pinza, per la misura della corrente, dalla continua a 50 MHz, da 1mA a 30A.
Sonde differenziali, per la rimozione delle tensioni di modo comune, a seconda del modello banda di lavoro fino a 500 Mhz e tensione di ing
Sistema per la crescita fisica e la deposizione di nanocluster metallici, compositi e semiconduttori (2-20 nm in diametro) preformati e selezionati
Banco ottico per spettrofotometria.
Campi di applicazione : Caratterizzazione ottica di film sottili.
Misura la resistenza verso terra dell'operatore, per garantire l'assenza di potenziali elettrostatici pericolosi per i componenti elettroni
SW di simulazione elettromagnetica 3D planare per circuiti stampati, antenne e filtri