Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
caratterizzazione di componenti di interesse biologico e funzionale (assieme a spettrometro di massa)
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Misura delle proprietà meccaniche (con test oscillatori) materiali solidi, semisolidi
Misura delle proprietà meccaniche (con test oscillatori) materiali solidi, semisolidi
Misure termiche di alta precisione
Caratterizzare le proprietà termiche dei materiali alimentari e del packaging
caratterizzazione composizione e morfologia di materiali in base alla fluorescenza
Simulazione di condizioni di conservazione, studi shelf-life accelerata
Accessorio per Texturometria