E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Analizzatore Dinamico Meccanico adatto per lo studio delle proprietà viscoelastiche di materiali polimerici
Analisi termica ad alta temperatura (2.400°C)
Strumento per la caratterizzazione di molti tipi di materiali tra cui polimeri, metalli e materiali ceramici
Strumentazione per la determinazione della resistenza all'erosione di materiali e rivestimenti - max. temperatura raggiungibile 1000°C
CMM DEA – Global Status 07.05.05 con cabina termostatata, testa di misura motorizzata Renishaw PH10 e sistema di programmazione offline, per misure
Sistema per acquisizione di campi di velocità istantanei tridimensionali in fluidi in moto.COMPONENTI: &nb
Modifica superficiale di materiali
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento