E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Videocamera professionale VR dotata di sei lenti fisheye in grado di acquisire immagini a 360° (risoluzione 7680 x 3840 pixels).
Sistema composto di due macchine: la prima, tramite l’impiego di uno specifico solvente estrae il bitume senza alterarlo o danneggiarlo; la seconda
Fessurimetri a filo stand-alone con datalogger integrato per la memorizzazione dei valori di spostamento e temperatura per la valutazione e il cont
Fotocamera reflex digitale professionale (DSLR), dotata di un sensore full frame (35 mm) da 24.5 megapixel.
Laser Scanner a tempo di volo che include compensatore biassiale, sistema di controllo e archiviazione dati, fotocamera con auto esposizione, piomb
Laser Scanner 3D a tempo di volo ad alta velocità (fino a 2.000.000 di punti acquisiti al secondo) con sistema di imaging sferico HDR integrato e V
Livello digitale per applicazioni quali il livellamento di precisione di superfici piane e in pendenza, l’identificazione della componente vertical
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.