E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
2 celle di carico, con fondi scala:
- 2,5 kN
- 200 kN
1 LVDT per misure di spostamento pistone
Cella di carico, fondo scala: 5000 kN
Controllo e Programmazione Mediante PC in carico
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.
Range temperatura: 25 - 60 °C,
Range umidità: 50 - 98 % u.r.
Apparato per la caratterizzazione del folding e misfolding di singole proteine, e dei meccanismi attraverso i quali singole biomolecole interagisco
Esperimenti in campo magnetico e sotto l'azione di campi em con frequenze sino a 20 GHz. Esperimenti a basse temperature.
Determinazione del Coefficiente di Frizione Dinamica secondo il metodo BCRA, con utilizzo di pattini di Gomma 4S e Cuoio.
Determinazione del Coefficiente di Frizione Statica secondo la norma ASTM C1028, con Cella di carico a trazione da 25 kg
Misure di scivolamento mediante determinazione del coefficiente d'attrito conforme alle normative EN 1097-8, 1338-1, 1339-1, 14231, 1340-1, 13
Deposizione PVD di film sottili a partire da target sia ceramici che metallici tramite RF e DC magnetron sputtering, sputtering reattivo (N2 atmosp
Sistema di litografia a fascio elettronico e microscopio elettronico a scansione.
Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto.
Sistema per la crescita fisica e la deposizione di nanocluster metallici, compositi e semiconduttori (2-20 nm in diametro) preformati e selezionati
Banco ottico per spettrofotometria.
Campi di applicazione : Caratterizzazione ottica di film sottili.
ICP simultaneo, con ottica ad elevata risoluzione, protetta dalla polvere con un sistema di flussaggio di gas inerte.