E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
NIRA Mercury 901 è in grado di determinare, con tecniche di separazione cromatografica, le presenze di idrocarburi totali (COV), disaggregandole in
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Madur GA 21-plus consente di svolgere misure sia in flussi convogliati che in ambiente.
Il banco prova può operare con caldaie sia a basamento che murali.
Il banco prova è il risultato dell’integrazione di due strutture sperimentali: un banco capace di operare una misura diretta del comportamento volu
TCR Tecora Isostack G4 consente di eseguire la raccolta di polveri totali emesse da una sorgente fissa secondo la modalità porta-filtro piano: (le
Dekati Fine Particle Sampler FPS consente la diluizione a doppio stadio di aerosol e flussi gassosi in accoppiamento a strumenti per la determinazi
TSI MOUDI 110 è un impattore con micro-orifizi (da 18mm a 0,056mm) ossia uno strumento utile per campionamenti in aria ambiente per attività di ric
ELPI consente la misura in tempo reale della concentrazione e distribuzione dimensionale del particolato da 7 nm fino a 10 micron.
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.