E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Annesso allo strumento si aggiunge la possibilità ad accedere alla strumentazione necessaria per la preparazione dei campioni come l'ultramicrotomo
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Strumento configurato per acquisizioni veloci, e tramite ultrarisoluzione (SIM), su campioni fissati e vitali in time-lapse, con analisi dello spet
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.
Analisi microtomografica bidimensionale e tridimensionale pe la caratterizzazione morfologica e strutturale di biomateriali, scaffold e tessuti bio
Apparato per la caratterizzazione del folding e misfolding di singole proteine, e dei meccanismi attraverso i quali singole biomolecole interagisco
Esperimenti in campo magnetico e sotto l'azione di campi em con frequenze sino a 20 GHz. Esperimenti a basse temperature.
Strumento per create vetrini digitali di alta qualità con capacità a cinque vetrini e ingrandimento 20x e 40x
Deposizione PVD di film sottili a partire da target sia ceramici che metallici tramite RF e DC magnetron sputtering, sputtering reattivo (N2 atmosp
Sistema di litografia a fascio elettronico e microscopio elettronico a scansione.
Sistema di deposizione da elettroni pulsati (Ionized Jet Deposition) per la deposizione di un layer nanostrutturato su superfici
Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto.
Sistema per la crescita fisica e la deposizione di nanocluster metallici, compositi e semiconduttori (2-20 nm in diametro) preformati e selezionati
Banco ottico per spettrofotometria.
Campi di applicazione : Caratterizzazione ottica di film sottili.
Per effettuare analisi della composizione dei materiali o della loro funzionalizzazione per dispositivi impiantabili