Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Alimentatore DC bidirezionale programmabile da laboratorio, tensione 500V, corrente 20A, potenza 3000W
Alimentatore DC da 0-200 V, 0-420 A, 4U 30 kW, USB LAN.
Alimentatore a frequenza Variabile fino a 15 kW.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Banco prova con freno attivo per la caratterizzazione delle macchine elettriche (ad esempio macchine sincrone, brushless, a induzione, ecc.)
Banco prova con freno attivo per la caratterizzazione delle macchine elettriche (ad esempio macchine sincrone, brushless, a induzione, ecc.) e prov
Banco prova ad alta potenza e alta coppia in configurazione back-to-back.
Datalogger temperatura a 8 canali per termocoppie di tipo K da utilizzare nel corso dei test di validazione delle macchina elettriche per la misura
Impianto controllato per il raffreddamento a liquido delle macchine elettriche in prova.
Caratteristiche tecniche:
Il modello GPT-9904 ha una potenza di 500 [VA] per prove di tensione di tenuta / Resistenza isolamento / Tester messa a terra.
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .