Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Consente di effettuare rilievi di microdurezza (su campioni metallici e su rivestimenti) con scala Vickers e Knoop e carichi tra 10 e 1000 g.
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo.
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre e film, per identificare
Microscopio ottico avanzato per osservazione diretta a basso ed alto ingrandimento, su campioni anche di grandi dimensioni.
Realizzare prototipi rapidi con tecnologia FDM (polimeri di base, polimeri tecnici caricati, gomme).
Ricevitore/Analizzatore di spettro RF, 20Hz-26GHz con tecnologia time domain(FFT)
Sistema di acquisizione a 16 canali con suite software HBM per analisi estensimetrica (strain gauge).
Sonda di corrente RF, 10kHz-1GHz per la misura di correnti a radiofrequenza
Sorgente di rumore RF(rumore a pettine), per la caratterizzazione di siti di misura e valutazione della risposta degli stessi
Consente di ricavare la composizione chimica quantitativa di leghe metalliche e quindi di verificarne la conformità e classificale secondo le norma