E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
INFN-TTLab ha una forte esperienza nello sviluppo e nella gestione di applicazioni basate su Intelligenza Artificiale (AI), settore chiave pe
Il TTLab ha realizzato un prototipo di Big Data Platform (BDP), un’infrastruttura per il monitoraggio dell’attività del centro di calcolo dell’INFN
Enhanced PrIvacy and Compliance (EPIC) Cloud è una piattaforma cloud certificata ISO/IEC 27001 per la gestione sicura dei dati conforme al GDPR.
Accesso ai servizi forniti da INFN Cloud, ovvero componenti modulari di tipo IaaS, PaaS e SaaS, per computing, machine learning, analytics e data s
Il laboratorio criogenia dispone di una camera a vuoto con dito freddo, dotato di sistema di raffreddamento ad elio e regolatore di temperatura, pe
ll laboratorio di lavorazione del silicio della sezione di Ferrara dispone di:
Nel laboratorio è presente una camera climatica per cicli termici, Memmert CTC25 con un range operativo -40º C – +190º C, una Wire bond
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento