E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Lo strumento sfrutta la tecnica DSC che misura la differenza della velocità del flusso di calore tra un reference e un campione in funzione della t
RSA-G2, TA INSTRUMENTS consente di effettuare l'analisi meccanica dei solidi.
Lo strumento FEI Helios Nanolab 600 combina un microscopio elettronico a scansione (SEM) con un fascio ionico focalizzato (FIB).
Diamond Jet 2600H consente la deposizione di layer metallici e cermet con spessori di circa 150-350 um per applicazioni tribologiche e di anticorro
L'inglobatrice a caldo CitoPress permette di realizzare campioni metallografici in breve tempo.
L'impianto Duralar Inner Armor CS10 è un sistema di deposizione PE-CVD per la realizzazione di rivestimenti DLC (diamond-like-carbon) a spessore so
La lappatrice Tegramin 25 permette di preparare singoli o più campioni in modo automatico adottando una idonea maschera.
SISMA MYSINT 100 consente la realizzazione di oggetti tramite la tecnologia additive manufacturing SLM.
SISMA MYSINT 300 consente la realizzazione di oggetti tramite la tecnologia additive manufacturing SLM.
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare int
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento